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簡要描述：產(chǎn)品簡介：SE-VM 是一款高精度快速測量光譜橢偏儀?？赏ㄟ^橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量，快速實現(xiàn)光學參數(shù)薄膜和納米結構的表征分析，適用于薄膜材料的快速測量表征。支持多角度，微光斑，可視化調(diào)平系統(tǒng)等高兼容性靈活配置，多功能模塊定制化設計。高精度橢偏測量解決方案；超高精度、快速無損測量；支持多角度、微光斑、可視化調(diào)平系統(tǒng)功能模塊靈活定制；豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結構模型庫，保證強大數(shù)據(jù)分析能力
產(chǎn)品型號：廠商性質：生產(chǎn)廠家更新時間：2019-02-15訪 問 量：4003詳細介紹
| 價格區(qū)間 | 面議 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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產(chǎn)品型號 | SE-VM光譜橢偏儀 | ||
主要特點 | 1、采用高性能進口復合光源，光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (380-1000nm) 2、高精度旋轉補償器調(diào)制、PCRSA配置，實現(xiàn)Psi/Delta光譜數(shù)據(jù)高速采集 3、支持系列配置靈活，可根據(jù)不同應用場景支持多功能模塊化定制 4、數(shù)百種材料數(shù)據(jù)庫、多種算法模型庫，涵蓋了目前絕大部分的光電材料 | ||
技術參數(shù) | 1、自動化程度：手動變角 2、應用定位：通用型 3、基本功能：Psi/Delta、N/C/S、R/T等光譜 4、分析光譜380-1000nm(可擴至210-1650nm) 5、單次測量時間：0.5-5s 6、重復性測量精度：0.01nm 7、光斑大?。捍蠊獍?-3mm,微光斑200μm 8、入射角調(diào)節(jié)方式：手動變角 9、入射角范圍：55-75°(5°步進),90° 10、找焦方式：手動找焦 11、Mapping行程：不支持 12、支持樣件尺寸：大至180mm | ||
可選配件 | 1 | 溫控臺 |
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2 | Mapping擴展模塊 |
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3 | 真空泵 |
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4 | 透射吸附組件 | ||
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